تفاصيل المعدات
Atomic force microscope (AFM) probes the surface of a sample with a sharp tip, a couple of microns long and often less than 100Å in diameter. The insturment generates a 2D/3D view at atomic-scale resolution and can be used to study roughness of surface
التفاصيل
| الاسم | Manfucturer |
|---|---|
| تاريخ الامتلاك | ١/٠١/٠١ |
| الشركات المصنعة | Agilent Technologies |
×
![]()
بصمة
استكشف مجالات البحث التي تم استخدام هذه المعدات فيها. يتم إنشاء هذه التسميات بناءً على المخرجات ذات الصلة. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.